X35 Series
DXD+ X-ray
Inspection System
เครื่องตรวจจับพลังงานคู่แบบ DXD+ ที่ล้ำสมัย ผสานการทำงานกับระบบเอ็กซเรย์รุ่น X35 เพื่อประสิทธิภาพการตรวจจับที่เหนือชั้น แม้จะเป็นสิ่งปลอมปนที่ตรวจจับได้ยาก เช่น เศษกระดูก ยาง และแก้ว ในผลิตภัณฑ์ที่มีเนื้อสัมผัสและซ้อนทับกัน โดยเทคโนโลยีเครื่องตรวจจับขั้นสูง DXD+ นี้ทำงานด้วยระบบซอฟต์แวร์ AMD ที่มีอัลกอริทึมคัดแยกวัสดุขั้นสูงรุ่นล่าสุด จึงสามารถตรวจจับสิ่งปลอมปนได้เป็นอย่างดี ซึ่งระบบที่สามารถตั้งค่าผลิตภัณฑ์ได้อัตโนมัติพร้อมซอฟต์แวร์อัจฉริยะนี้ ยังช่วยเพิ่มเวลาในการทำงาน เพิ่มความเร็วในการตรวจจับ ลดต้นทุน และลดอัตราความผิดพลาดในการคัดแยกได้อีกด้วย
The cutting-edge DXD+ dual energy detector, which can be incorporated into the X35, offers unrivaled detection of hard-to-find contaminants such as calcified bone, rubber, and glass in textured and overlapping product applications. The DXD+ advanced detector technology is powered by the AMD software with the latest advanced material discrimination algorithms and offers exemplary contamination detection. This automated product setup and intelligent software also improves uptime, enhances detection sensitivity, reduces costs, and minimizes false reject rates.
By: Mettler-Toledo (Thailand) Limited
www.mt.com
